触发式测头和扫描式测头有什么区别

触发式测头和扫描式测头是数控机床和三坐标测量机（CMM）中常用的两种测量技术。它们各有特点和适用场景，以下是它们的主要区别和应用：

触发式测头

1.工作原理：

•触发式测头通过物理接触工件的表面，然后在接触点发送一个信号。这个信号用于记录接触点的位置。

2.特点：

•测量速度相对较慢，因为每个测量点都需要停止移动来记录数据。

•适合于需要少量离散点的精确测量。

•结构简单，耐用，适用于各种环境。

3.应用：

•适合于测量几何尺寸、孔径、位置等特性，特别是在需要高精度的单点测量的应用中。

扫描式测头

1.工作原理：

•扫描式测头在与工件接触的同时沿着工件表面移动，连续记录数据点。

2.特点：

•能够快速收集大量数据，适合于测量复杂的几何形状和曲面。

•提供连续的数据点，可以用来生成工件的详细轮廓图。

•相对于触发式测头，结构更复杂，可能更敏感于环境变化。

3.应用：

•适用于需要大量数据的应用，如曲面分析、形状检测和复杂几何体的测量。

选择标准

选择触发式还是扫描式测头通常取决于测量需求：

•如果需要高精度的离散点测量，触发式测头通常是更好的选择。

•如果需要对复杂形状或曲面进行详细分析，扫描式测头则更为合适。

每种类型的测头都有其独特的优势，选择时应考虑测量任务的具体需求和机床或测量设备的兼容性。